点击图片查看原图
长久以来，X射线吸收精细结构谱(XAFS)只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年，XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配"，致使越来越多课题组需要XAFS测试。
吸收谱XAFS产品优势：
多功能:
提供科研级高质量XAFS图谱
高性能:
1小时内完成1%含量样品测试
能量范围:
4.5-15 keV，可扩展至20 keV
高光通量:
>2,000,000 photons/sec 7~9 KeV
测试元素:
在实现3d,5d，稀土元素过渡金属XAFS测试
简单易用:
只需半天培训即可上机操作
自主可控:
90%部件自主可控，无政策风险
低维护成本:
无需专人维护、操作、管理等
更多访问：
http://www.rapid-xas.cn/Products-38302736.html
